Zaawansowany mikroskop pomiarowy sterowany numerycznie CNC MITUTOYO QUICK VISION ACTIVE 202 wyposażony w opcjonalny dodatkowy stykowy system pomiarowy RENISHAW PH6 .
Mikroskop pozwala wykonywać pomiary produkowanych przez państwa detali oraz narzędzi pomiarowych metodą optyczną oraz metodą stykową tak jak na maszynie współrzędnościowej CMM. Oba systemy połączone w jednym oprogramowaniu QVPAK dają nieograniczone możliwości pomiarowe dla najróżniejszych detali przy zachowaniu największej precyzji.
Automatyczna detekcja krawędzi, linii, okręgów, profili z zaawansowaną filtracją.
Zakres pomiarowy:
X – 250 Y – 250 Z – 150 – Optyczny pomiar w osi Z !
Rozdzielczość pomiaru 0,1 µm.
MPE – 2,5 µm
Programowalny system oświetlenia konturowego z pierścienia wokół obiektywu, ze stołu oraz koaksjalne. Zoom optyczny z 8 pozycjami .









