Zaawansowany mikroskop pomiarowy sterowany numerycznie CNC MITUTOYO QUICK VISION ACTIVE 202 wyposażony w opcjonalny dodatkowy stykowy system pomiarowy RENISHAW PH6 .

Mikroskop pozwala wykonywać pomiary produkowanych przez państwa detali oraz narzędzi pomiarowych metodą optyczną oraz metodą stykową tak jak na maszynie współrzędnościowej CMM. Oba systemy połączone w jednym oprogramowaniu QVPAK dają nieograniczone możliwości pomiarowe dla najróżniejszych detali przy zachowaniu największej precyzji.

Automatyczna detekcja krawędzi, linii, okręgów, profili z zaawansowaną filtracją.

Zakres pomiarowy:

X – 250  Y – 250  Z – 150  – Optyczny pomiar w osi Z !

Rozdzielczość pomiaru 0,1 µm.

MPE – 2,5 µm

Programowalny system oświetlenia konturowego z pierścienia wokół obiektywu, ze stołu oraz koaksjalne. Zoom optyczny z 8 pozycjami .